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高压加速老化试验箱 |
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PCT试验箱使用说明
1.使用PCT老化试验箱前请详读操作保养手册。
2.建议使用蒸馏水或R.O.水以保护锅体使用安全。
3.使用PCT前请确认关闭手动排气阀门。
4.工作完成后如压力指示器未回到0kg/cm²。开门前请打开手动排气阀排除内锅剩余压力，直到内锅压力回到0kg/cm²。
5.工作完成后将测试物品留置在锅内时间过长，将可能发生锅门无法开启的现象，那是因为冷热空气收缩造成的压差所导致，处理方式很简单，只要打开手动排气阀排除内锅气体，锅门就可打开。
PCT老化箱（又名PCT高压加速老化试验机）主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。
PCT试验箱对半导体的PCT测试：PCT主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
产品特点
1. 采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度。
2. 采用指针显示正负压表；时间控制器采 LED 显示器；自动水位控制器,水位不足时提供警示。
3. 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准, 可防止试验中结露滴水设计.。
4. 圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品.。
5. 精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续 200h。
6. 自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,专利安全门把设计,箱内有大于常压时测试门会被反压保护。
7. 内压力愈大时,专利packing,箱门会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命。
8. 临界点 LIMIT 方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。
9. 安全阀，当锅内压力超过大工作值自动排气泄压。
10. 一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。
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