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TR-518FR 在线测试仪规格参数 测试点数 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点 测试步骤 步骤: 12288步骤,可依需求扩充 测试时间 开路/短路测试:每1000点约1.5Sec(Typical DUT) 元件测试:每一元件约0.8mSec至30mSec(Typical DUT) 测试范围 电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体: ±5V 电容:1.0PF至40mF Zener二极体: 标准配备,0.1V至48V 电感:1.0UH至60H 二极体:0.1V至9.99V 隔离点电路 隔离点自动选择,每测试步骤5点 测试值上下限设定范围
选配: (宽) 500 mm x (长) 350 mm x (高) 100 mm . 模拟硬件 1、六线式量测 2、可编程AC电压源/DC电压源与电流源/DC高电压源 3、AC/DC电压源, DC电流源量测 4、元件R/L/C量 . 选配硬件 。模拟测试 1、TestJet技术非向量式开路检测，任意波形产生器(AWG) 。数字测试 1、每脚位全新数位1:1非多工式驱动/接收比设计 2、待测板电源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A 3、可编程DUT电源: 25V@8A, 75V@2.5A 4、边界扫描, BGA Tree测试能力 5、支援快闪记忆体及EEPROM及MAC的在线烧录TR-5001E 选ICT 二手TR5001E
随着现代制造技术的发展，超大规模集成电路的使用，编写器件的向量测试程序常常花费大量的时间，如80386的测试程序需花费一位熟练编程人员近半年的时间。SMT器件的大量应用，使器件引脚开路的故障现象变得更加。为此各公司非向量测试技术，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量测试技术。
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