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蔡司SmartShield 是保护您的样品和显微镜的简便解决方案,是蔡司“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan)控制系统中的一部分。只需轻松点击按钮,蔡司SmartShield就会在您的样品周围包裹一个数字化的防撞圈。这种自动化的解决方案让您可以放心地让样品更接近射线源和探测器。有了蔡司SmartShield,新用户和用户都可以体验到简洁的样品设置工
蔡司DeepRecon
率先实现基于深度学习的商用重建技术,使您在不影响XRM RaaD 成像能力的情况下,能够实现通量多达10 倍的提高。也保持相同的投影数并进一步改善图像质量。DeepRecon 可特地从XRM 生成的大数据中获取隐藏的机会,并提供由人工智能驱动的高速或显著的图像质量改进。
全功能3D 可视化和数据分析平台
• 使用强大而直观的分割和分析工具找到
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专为支持显微镜技术人员的需求而设计
• 用于集成多尺度关联显微技术的通用工作
站,跨度涵盖厘米到纳米。
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蔡司客户导向:持续改进和可持续升级
保障您的投资:蔡司Xradia Versa 提供出色的可扩展性。蔡司提供持续的支持,以确保您的系统不会落伍。大多数蔡司X 射线显微镜的设计可随未来的创新和发展进行升级和扩展,可持续保障您的投资。这确保了您的显微镜功能随着技术进步而发展。这是三维X 射线成像行业产品差异化关键因素之一。
从蔡司Xradia Context microCT 到蔡司Xradia 515/520 Versa,直到蔡司Xradia 610/620 Versa,您可以在应用现场将系统转换为全新的X 射线显微镜产品。除了在您的使用现场进行仪器转换外,新的模块还在不断开发中,这些模块不断提供新的功能来让您的仪器功能更强大,如原位样品环境、特的成像模式和用于提高工作效率的模块。此外,定期发布的软件所包括的新功能也适用于已有设备,从而增强和扩展您的研究能力。
合作丨共赢,选择我们,选择未来!
北京瑞科中仪科技有限公司专注半导体材料分析,助力科研机构实现分析。通过对行业的深入剖析,瑞科中仪科技有限公司工作人员已掌握和具备半导体材料分析研究的基本素质,可以根据各领域用户的实际需求为用户提供的解决方案。