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镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
测厚仪产品特性：
1、进口传感器，了测试精度；
2、严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制；
3、测量头自动升降，避免了人为因素造成的系统误差；
4、手动、自动双重测量模式，更方便客户选择；
5、配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果；
6、打印值、小值、平均值及每次测量结果，方便用户分析数据；
7、仪器自动保存多100组测试结果，随时查看并打印；
8、标准量块标定,方便用户快速标定设备；
9、测厚仪配备自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小；
10、技术化的软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户；
11、配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输。
测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项：
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
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