产品别名 |
薄膜测厚仪-,测厚仪器,薄膜测厚仪厂家供应 |
面向地区 |
全国 |
技术参数：
* 检测范围 0--600mm
* 钢板温度 0--1200°C
* 钢板速度 0--25m/s
* 采样时间 优于1ms
* 测量精度 动态优于±0.03%
* 安装方式 根据要求定制
X射线测厚仪利用X射线管通电产生X射线作为信号源，根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换检测薄膜的厚度，它的特点是放射物质能量低，无需使用许可证，测量精度高，可测量透明或不透明材料，不受添加剂和色母料的影响，不受环境温度和薄膜抖动影响。
检测头采用电离室和电子前置放大器组成电离室检测头，离子室设计具有大空间，高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元，延长系统的使用寿命。
