产品别名 |
x射线荧光光谱仪,x荧光分析仪,能量色散x射线荧光光谱仪 |
面向地区 |
全国 |
利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
X射线荧光分析仪是利用XRF技术解决复杂成份中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率；
采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
台式X射线荧光分析仪 能量色散EDX光谱仪
莫斯莱(H.G.Moseley) 发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学意义表达如下：
λ=K(Z-s)-2
这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定性分析和定量分析
出下限：≦2ppm，精度0.05%
测试样品时间：10－300秒可调
测试含量范围：1ppm－99.99%
样品形状：任意大小，任意不规则形状，镀层测试样品为平整且大于2mm金属样品
样品类型：：塑胶/金属/薄膜/粉末/液体/固体/膏状，合金和镀层分析为金属样品
X射线管：
管电压/0～50 kV 管电流/大1～1000 μA，大功率: 50 W，灯丝电压: 2.0V，灯丝电流: 1.7 A，射线取出角：12°靶材：钨靶，铍窗厚度：400um，超温超载保护，不工作时自动进入待机状态延长使用寿命。
样品监测系统：
30倍500万像素彩色CCD摄像机，在软件测试界面可实时观察样品状态和放置样品测试前微动调整样品位置，样品测试完成后图样清楚呈现在测试报告中。
软体系统：
定量分析计算，运用理论Alpha系数法(NBS-GSC法) 、集成FP法、经验系数法，针对各元素的测试，多次测量重复精度小于0.1%；多种语言操作界面，操作简单，一键式设计，可生成各种人性化定制报告，能够自动输出PDF,EXCEL等报告格式。
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