古董成分光谱分析仪,文物鉴定仪器

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古董成分光谱分析仪,文物鉴定仪器

EDX9000型仪器在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化学成份和金属镀层厚度，做到一机多用，是古文物检测的科学检测仪器。

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台式X射线荧光分析仪 能量色散EDX光谱仪的型号：EDX 9000
X光管：Rh靶材；50W；
高压：50KV；1mA
探测器：SDD（硅飘移探测器）
配置真空装置，包括真空泵
测试元素：S、P、Mn、Fe、Cr、Ni、Si、Al、Ca 等等
X射线荧光分析仪的基本原理：
当能量原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学意义表达如下：
λ=K(Z-s)-2
这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定性分析和定量分析
文物因其特殊的属性而具有较高的观赏价值和经济价值，正因为这样，大量的假货、赝品充斥市场也就在所难免了，为了辩识文物的真伪，文物鉴定工作越来越受到社会各界的广泛关注。EDX9000荧光光谱仪是一种科学方法，包括通常所说的传统鉴定方法和现代仪器分析方法相结合，进行鉴定。
断源与断代是古陶瓷科学技术研究中的两个重要方面，其中必定要使用到对古陶瓷标本的化学组成以及记录其年代信息的载体进行测定的科学方法。测定古陶瓷标本与各地制陶原料的化学组成可以确定古陶瓷的产地，并可在一定程度上帮助判断古陶瓷的烧造年代；而通过检测保留在古陶瓷内部的记录其年代信息的各种载体，则可以较准确的进行断代。
能量色散X荧光能谱(EDXRF) 是以X射线照射到样品表面，利用能谱仪测定各种元素的特征X射线光子的能量和强度，以此来进行定性和定量分析。这种方法样品处理很简单，分析速度快，测量元素范围广，配合适当的标准参考物可得到较好的准确度，对样品表面基本无损伤，如果在仪器定制时加装真空大样品室，就可以进行大器物的无损测试了。综合这些优点，可以认为它是目前进行古陶瓷无损鉴定比较好的一种方法。
陶瓷器的鉴定曾经一度受到不可采样的限制，仅对一些大型器物底部取样作些热释光的年代分析工作，一些造假者甚至利用射线源对新烧的仿制品进行辐照处理，以期对热释光的检测造成假象，干扰测试结果的结论。自打八十年代以来，大样品室的X射线荧光能谱仪问世，瓷器的釉表面成分原位无损检测既成事实，为瓷器的真伪判别引入了一种全新的方法。
EDX9000是一款针对于古文物检测而量身定做的无损测量的能量色散X荧光分析仪器，其技术参数如下：
分 析 范 围: 1PPM-99.99%
同 时 分 析: 几十种元素同时分析
测镀层厚度至0.01微米
测 量 对 象: 固体、粉未、液体
测 量 时 间: 60-300 秒
测 量 精 度 : 0.05%
分 析 元 素: Na-U
工 作 温 度: 15-26℃
相 对 湿 度: ≤70%
重 量 : 280KG
功 耗: 200瓦