产品别名 |
磁性材料分析仪,二手仪器价格 |
面向地区 |
全国 |
品牌 |
Agilent/安捷伦 |
工作温度 |
常温 |
显示方式 |
数字式 |
类型 |
多参数测试仪 |
测量方法 CROSS-POWER法
测量项目 大磁通密度 （Bm）、剩余磁通密度 （Br）、大磁场 （Hm）、矫顽力 （Hc）、方形比 （Br/Bm）、振幅相对导磁率 （μa）、磁芯损耗 （Pc，Pcv，Pcm）、相位角 （θ）、总磁通量变化 （2μm）、大感应电压 （V2m）、大激励电流 （I1m）、皮相功率 （VA） 阻抗导磁率 （μZ）、复磁导率 （μ'， μ''）， 损耗系数 （tanδ）、电感 （L）、电阻 （R）、阻抗 （Z） 质量系数 （Q）、总谐波失真 （THD）
测量波形 B-H曲线、励磁电流/感应电压/磁场/磁通密度波形
测量频率 正弦波 10Hz～10MHz（SY-8218）
10Hz～1MHz（SY-8219）
模块或数个芯片, 器件自动切换测试
可自动控制加热板, 全自动进行六合一模块的温度特性测量
测试结果窗口 (附图)
波形比较功能: 可将产品开发时的不稳定状态或不良分析时测得的多个波形进行同屏比较, 或通过波形比较来判断是否合格 (附图)
产品应用
适用于高电压或高电流功率器件 (如IGBT和功率MOSFET) 及半导体器件 (如晶体管, 二极管和 LED) 的特性测试
电力电子器件 (如 SiC和GaN) 的电容测量 (选件CS-603A/CS-605A)
可实行晶圆和芯片上的电容测试 (探针台和选件CS-603A/CS-605A)
静态特性测试包括漏电流, 饱和电压, VF和Vth (附图)
传输特性 (Vge-Ic/Vge-Vce) 和电路模块的测试功能
器件测试
可以在短时间内执行多个器件的测试和记录. 操作员只需根据器件替换和连接更改来输入样本名称, 以重复相同的测试. 在既定条件下判断 (通过/失败) 将显示每个测试与图像和波形数据也将自动存储(附图)
半导体温度特性测试评估
CS-810控制加热板. 尽管测试需要很长的时间 (如温度测试), 仍可自动执行 (附图)
痠劳测试
在痠劳测试中可以包含各种各样的参数. CS-810 软件支持长时间可靠性测试. 通过曲线图示CS-810监察电压和电流, 那些曲线的区别能被记录下来. 痠劳测试可以实现多种参数的自动测量. 偏置会停止电流或电压的限制值并以此设定为下限和上限的极限值. CS-810 软件测量 Ic 或 Vce (区间: 10s 至 2h) 和保持一定的电压或电流 (10s 至 1,000h) (附图)
与探针台共用时, 可实现晶圆测试 (附图)
标准配件
CS-301: CS-3100标配测试台S
CS-302: CS-3200和CS-3300标配测试台M
CS-303: CS-5100, CS-5200和CS-5300标配测试台M
CS-304: CS-5400标配测试台M
测试台M快装面板: CS系列标配快装面板 (除CS-3100外)
CS-500: CS-3100, CS-3200, CS-3300, CS-5100, CS-5200, CS-5300, CS-5400标配测试端口转接夹具
CS-005: CS系列标配标准线套装(除CS-3100外)
CS-006: CS-5400标配20cm高电流电缆 (2条)
CS-007: CS-10400, CS-10800, CS-12800, CS-15800标配30cm 高电流电缆 (2条)
LAN接口
USB接口
操作手册
