关键词 |
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面向地区 |
全国 |
品牌 |
天瑞 |
X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
x射线荧光镀层测厚仪可以检测镀金层、镀镍层、镀锌层、镀铬层、镀银层、镀铜层、镀锡层的厚度。检测速度快随着科学技术的日益进步，特别是计算机技术的快速突破，x射线荧光镀层测厚仪也同时向着微型、智能、多功能、、实用化的方向发展。x射线测厚仪的测量分辨率已达到纳米级，精度更是有了大幅度的提高，且具有适用范围广泛，量程宽、操作简便且界面友好等特点.
