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蔡司Xradia 515 Versa 的所有功能均与“定位- 和- 扫描”（Scout-and-Scan） 控制软件无缝整合在一起，提供一个的工作流程境，让您能够轻松定位到感兴趣区域和选择扫描参数。对那些使用者经验水平各不相同的中心实验室用户来说，这款简洁易用的系统可谓是理想的选择。
蔡司SmartShield 是保护您的样品和显微镜的简便解决方案，是蔡司“定位- 和- 扫描”（Scout-and-Scan）控制系统中的一部分。只需轻松点击按钮，蔡司SmartShield就会在您的样品周围包裹一个数字化的防撞圈。这种自动化的解决方案让您可以放心地让样品更接近射线源和探测器。有了蔡司SmartShield，新用户和用户都可以体验到简洁的样品设置工作流和的蔡司Xradia Versa XRM 系统导航。
重建工具箱是一个创新的平台，您可以在此平台上连续使用蔡司重建技术，用来丰富您的研究，并提高蔡司Xradia 三维XRM 的。
蔡司DeepRecon
率先实现基于深度学习的商用重建技术，使您在不影响XRM RaaD 成像能力的情况下，能够实现通量多达10 倍的提高。也保持相同的投影数并进一步改善图像质量。DeepRecon 可特地从XRM 生成的大数据中获取隐藏的机会，并提供由人工智能驱动的高速或显著的图像质量改进。
蔡司PhaseEvolve
蔡司PhaseEvolve 是一种后处理算法，主要针对X 射线显微镜在材料成像中为了提高对比度一贯采用的图像对比度增强所产生的效果。在中、低密度样品或高分辨率成像中这种会引起的相位效应。该功能可实现更的定量分析和对结果进行图像分割。
您可以为所有的蔡司Xradia Versa 仪器选配原位接口套件，包括机械集成套件、坚固的布线导槽和其它设施（馈入装置），以及基于测试规程的软件，它能够简化蔡司“定位- 和- 扫描”（Scout-and-Scan）用户界面中的操作。在蔡司Xradia Versa 上体验原位装置高水平的稳定性、灵活性和集成控制，得益于其光学架构设计，在变化的环境条件下不会牺牲分辨率。
北京瑞科中仪科技有限公司专注半导体材料研究分析设备的研发和应用。的团队，专精的服务，提供理想的解决方案。
我们长期专注于半导体材料研究与分析设备的经销和代理，为高校、企业科研工作者提供的分析解决方案。以技能为导向，用科技来解决用户在科研中遇到的难题。的技术工程师和科研工作者进行现场演示和技术交流，打消顾虑，彼此协作，为我国的科研领域谱写新篇章。
北京瑞科中仪科技有限公司长期代理销售供应多种分子材料的研究分析设备，其中包括但不限于扫描电子显微镜、感应耦合等离子体化学气相沉积系统、离子束刻蚀机、等离子清洗机、物理气相沉积系统以及各品牌的光学显微镜以及实验室设备仪器。
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北京瑞科中仪科技有限公司专注半导体材料分析，助力科研机构实现分析。通过对行业的深入剖析，瑞科中仪科技有限公司工作人员已掌握和具备半导体材料分析研究的基本素质，可以根据各领域用户的实际需求为用户提供的解决方案。
