关键词 |
HAST老化试验箱HAST-35 |
面向地区 |
全国 |
控制精度：±0.1℃·触控式设定、数位及直接显示；
·P . I . D自动演算之功能，可减少人为设定时带来之不便；
·在运转或设定中，如发生错误时，会提供警示信号。
老化试验箱采用国外的加热气流方法，解决了原转盘式的温度不均匀先天缺陷，同时大大提高了试样放置的安全性，有效空间利用率是原转盘式的200%以上，适用于电子元件，橡胶零部件等材料在高温下的老化适应性试验。新型老化试验箱采用LTDE可编程控制系统，在额定温度范围内可按工作需要进行程序升温-恒温-待机，操作人员设置好程序后，仪器即按程序工作，完毕后自动关机（待机）。
技术指标：
1、温度范围：-60℃～150℃
2、湿度范围：30～98%RH（温度在25℃～80℃时）
3、温度均匀度：≤2℃ （空载时）
4、湿度均匀度：+2、-3%RH
5、温度波动度：±0.5℃ （空载时）
6、湿度波动度：±2%
7、温度偏差：±2℃
8、湿度偏差：±2%
9、降温速率：0.7～1.0℃/min
10、升温速度：1.0～3.0℃/min
11、时间设定范围：1～9999H
12、湿度交变范围：40～98%RH
针对X试验箱信息化科学研究总院的业务现状，充实目标客户的资源、销售的过程化控制、减轻销售人员的负担，提高工作效率等问题变的十分重要；通过建设思创ECRM系统，实现全国客户资源的集中管理，有效地实现销售平台统一；通过系统的机会管理，实现销售的过程管理，从而有效地跟踪当前的销售机会及对项目进行有效的管理与监控。
加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
HAST老化试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。
全国HAST老化试验箱HAST-35热销信息
