产品别名 |
x射线荧光光谱仪,x荧光分析仪,能量色散x射线荧光光谱仪 |
面向地区 |
全国 |
利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
台式X射线荧光分析仪 能量色散EDX光谱仪
X射线荧光分析仪的基本原理：
当能量原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。
应用领域：
金、铂金、银等贵金属的成分检测。可广泛应用于珠宝首饰中轻元素的检测。
RoHS检测分析、卤素检测分析、玩具皮革等八大重金属测试
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
土壤中元素含量分析
水泥元素分析
固危废中的P、S、Cl以及重金属分析
油品中硫含量分析
各种有色金属合金、冶炼品，矿渣，炉料的分析
非金属氧化物、石灰石、钛白粉等复杂材料的分析
元素分析范围：
钠（Na）到铀（U）任意元素
1:合金成份分析如S、Cu、Zn、Pb、Sn、Fe、Ni、Mn、Sb、Al、Si、Cr、Mo、Co、Ti、V、Au、P等元素；
2：ROHS无卤分析：铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬(Cr)、多溴联苯（PBB）和多溴联苯醚（PBDE）中的总溴,卤素中的溴(Br)、氯（Cl）、锑（Sb）、砷(AS)、锡(Sn)；
3：金属镀层分析如Ag/Sn/Au/Ni-Cu, Cr/Zn/Ni/Ag-Fe
探测器系统：
美国Amptek SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比，佳分辨率：140±5eV；新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高，在合金检测中效果好。
美国Spellman高压电源：
输入电压: DC +24V±10%，输入电流：4.25A（大），输出电压: 0 -50KV & 1mA ，大功率：50W，电压调整率：0.01% （从空载到满载）
电流调整率：0.01% （从空载到满载），纹波电压：输出额定电压前提条件下，纹波电压的峰值为高输出电压的0.25%，8小时稳定性：≤0.05%。
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