茂名承接二手德律TR-5001E服务周到

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TR-518FV , TR-518FE , TR-518FR , TR-5001 , SRC6001 , JET300NT,
标准配备:微型印表机

*其它选购配备 (二手TR5001E)

Windows作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文）

Trace Level 图形显示检修软体。

网络连线及远端遥控维修，Bar Code Reader(Printer)Package,

Auto Test Program Generator,Data Transfer Generator

光电保护及多连板自动盖章功能

实装板程式烧录功能

*选项测试功能

HP TestJet功能：

可测IC数量：标准配备，64频道/MUX CARD

扩充，960频道 测试时间：2mSec/Pin

Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz

Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz

Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V

Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up
电源
AC100V-120V，200V-240V，50Hz-60Hz,350W

TR518FE是德律科技继成功推出TR518F之后，运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。

◆ 视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易

◆ 电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC

◆ 保护二极体之测试程式

◆ 电脑自动隔离点选择功能，自动判断信号源及信号流入方向

◆ 可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式

◆ 完整测试统计资料及报表产生，且自动储存，不因断电而遗失数据

◆ 系统具自我诊断功能及远端遥控功能

◆ Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修

◆ 高科技半导体CMOS Switching设计，无寿命限制，待测物安全性高

◆ 操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式

◆ 大型主机设计，高密度SwitchingBoard，可达3584测试点

◆ 可加装调整装置具动态调整装调整功能

◆ 多重安全性设计，确实保障操作人员率先引进TestJet Technology技术，检测SMT元件开路空焊问题，效果好

◆ 应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题

◆ 辅助学习模组可检测IC反向问题

◆ 漏电流量测方式可辅助检测电容容性达50-60%

◆ 选项功能强大，可针对同之测试需求，加装如频率量测、 电压量测、电流量测

◆ 具备1MHZ信号源，可量测小电容小电感

◆ 具三点量测模式，可量测电晶体FET、SCR等元件，并可对Photo-Coupler提供四点量测，确实检测上述元件 之反插问题

◆ 具Pin Contact检查功能

工作电压：220V
配置：标配（320点）
成色：二手九成新
JET-300在线测试机（IN CIRCUIT TESTER）是经由量测电路板上所有零件，包括电阻、电容、电感、二极管、晶体管、FET、SCR、LED 和IC等，检测出电路板产品的各种缺点诸如：线路短路、断路、缺件、错件、零件不良或装配不良等，并明确地指出缺点的所在位置，帮助使用者确保产品的品质，并提高不良品检修效率。它还率先使用可用数亿次开关的磁簧式继电器（REED RELAY），是当今测试涵盖率*高，测试*稳定，使用*方便，提供资料*的在线测试机。
系统性能
JET-300在线测试机(IN CIRCUIT TESTER)是经由量测电路板上所有零件,包括电阻、电容、电感、二极体、电晶体、FET、SCR、LED 和IC等, 检测出电路板产品的各种缺点诸如 : 线路短路、断路、缺件、错件、零件不良或装配不良等, 并明确地指出缺点的所在位置, 帮助使用者确保产品的品质, 并提高不良品检修效率. 它还率先使用可用数亿次开关的磁簧式继电器(REED RELAY), 是当今测试涵盖率**, 测试稳定, 使用方便, 提供资料的在线测试机.

以下是JET-300的产品特性
硬体规格
REED RELAY的扫描板

JET300的扫描板採用了可二亿次的REED RELAY，解决了ICT 扫描板容易损坏的问题, 由于REED RELAY 的应用，使JET-300在性能上大有改善。诸如：
1.Zener diode 测试电压可达50v，所有测试点皆可使用。
2.小电容和小电感量测较准确和稳定，较不受温度的影响。
3.电容极性的可侦测率较用CMOS RELAY时大为提高。
4.可耐高压又有残存电压侦测功能，扫描板受到充分的保护。
5.配置功能测试的可行性较高。