产品别名 |
X射线荧光测厚仪,X射线测厚仪,镀层厚度分析仪,金属镀层测厚仪 |
面向地区 |
测定对象 |
所有金属镀层 |
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测量范围 |
其它 |
型号 |
其它 |
能量色散X荧光光谱仪
EDX6000E
镀层测厚仪
目录
1.产品名称及特点:
2.仪器硬件主要配置
2.1 Si-pin电制冷半导体探测器
2.2 X光管（小焦点X光管）:
2.3 高低压电源:
2.4 多道分析器:
2.5光路过滤模块
2.6 准直器自动切换模块
2.7滤光片自动切换模块
2.8准直器和滤光片自由组合模块
3.金属镀层分析软件
4.附件
5.产品保修及售后服务
产品资料
1.产品名称及特点:
1.1. 产品名称及型号：（3V x-ray）能量色散X射线荧光光谱仪-------EDX6000E
1.2. 制造商：苏州三值精密仪器有限公司
1.3 仪器总价值： 数量 单位 金额（人民币）
1 套 RMB(含税)
1.4 产品图片
EDX6000E型
1.5. 工作条件：
● 工作温度：15～30℃
● 相对湿度：40%～80%
● 电 源：AC220V±5V
1.6.产品特点
1.6.1 EDX6000E可针对金属镀层厚度及成分含量进行分析。
1.6.2打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器简洁大方。
1.6.3采用美国新型的Si-pin探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。
1.6.4采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，测量更准确。
1.6.5七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。
1.6.6多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品。
1.6.7一体化散热设计，使整机散热性能得到提高，了核心部件的运行安全。
1.6.8机芯温控技术，X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。
1.6.9多重仪器部件保护系统，并可通过软件进行全程监控，仪器工作更稳定安全。
1.6.10测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便。
1.6.11采用USB2.0接口，有效数据准确、高速的传输。
2.仪器硬件主要配置
2.1 Si-pin电制冷半导体探测器
2.1.1. Si-pin电制冷半导体探测器；分辨率:149±5eV。
2.1.2. 放大电路模块：对样品特征X射线进行探测，将探测采集的信号进一步放大。
2.2 X光管（小焦点X光管）:
2.2.1 灯丝电流：1mA。
2.2.2 属于半损耗型部件，设计使用寿命大于10000小时。
2.3 高低压电源:
2.3.1.电压输出：≤50kV。
2.3.2.5kv可控调节。
2.3.3.自带电压过载保护。
2.4 多道分析器:
2.4.1. 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件。
2.4.2 通道数：4096。
2.4.3 包含信号增强处理。
2.5光路过滤模块
2.5.1 降低X射线光路发送过程中的干扰，探测器接收信号准确。
2.5.2 将准直器与滤光处组合；
2.6 准直器自动切换模块
2.6.1 多种选择，口径分别为8、4、2、1、0.5mm。
2.7滤光片自动切换模块
2.7.1五种滤光片的自由选择和切换。
2.8准直器和滤光片自由组合模块
2.8.1多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。
3.金属镀层分析软件
3.1 元素分析范围：从硫（S）到铀（U）。
3.2 分析检出限可达0.1-99.99%
3.3 分析厚度一般为0.1μm至30μm之间。
3.4 多次测量重复性可达0.1μm（对于小于1μm的外层镀层）。
3.5 长期工作稳定性为0.1μm（对于小于1μm的外层镀层）。
4.附件
4.1 样品腔：开放式大样品腔。
4.2 标准样品：镀层标样。
5.产品保修及售后服务
5.1 免费对客户方操作人员进行培训。
5.2 安装、调试、验收、培训及售后服务均为免费在用户方现场进行。
5.3正常使用，经本公司确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器自验收合格之日起保修壹年。
5.4 产品终身维修（客户有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等）。
5.5 免费提供软件升级。
5.6 提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，2小时内响应，如有需要，24小时内派人上门维修和排除故障。
