产品别名 |
x射线荧光光谱仪,x荧光分析仪,能量色散x射线荧光光谱仪 |
面向地区 |
全国 |
利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
台式X射线荧光分析仪 能量色散EDX光谱仪
X光管：Rh靶材；50W；
高压：50KV；1mA
探测器：SDD（硅飘移探测器）
配置真空装置，包括真空泵
测试元素：S、P、Mn、Fe、Cr、Ni、Si、Al、Ca 等等
X射线荧光分析仪的基本原理：
当能量原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。
样品监测系统：
30倍500万像素彩色CCD摄像机，在软件测试界面可实时观察样品状态和放置样品测试前微动调整样品位置，样品测试完成后图样清楚呈现在测试报告中。
软体系统：
定量分析计算，运用理论Alpha系数法(NBS-GSC法) 、集成FP法、经验系数法，针对各元素的测试，多次测量重复精度小于0.1%；多种语言操作界面，操作简单，一键式设计，可生成各种人性化定制报告，能够自动输出PDF,EXCEL等报告格式。
1．卖方按公司统一包装形式对买方所购产品进行包装；
2．托运公司将产品托运至买方地点，运输费用及托运包装费用由卖方承担。
付款方式 1．合同签订后，买方须先向卖方预付50%的货款；
2．卖方收到预付款后2-3周内，发货到买方地点并安装调试培训；
3．仪器安装调试培训完成后，30天内买方付清仪器余款。
交货地点 买方工厂（或地点）。
交货日期 收到买方预付款后2-3周内。
