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二手德律ICT 二手TR-5001E元件测试仪 强大的软件作业环境: 使用Windows7作业系统 电脑自动学习并自动产生测试程式 电脑自动隔离点选择功能 可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式 完整测试统计资料及报表产生，且自动储存，不因断电而遗失数据 系统具自我诊断功能及远端遥控功能 BoardView 功能 完善的硬体架构设计 使用USB介面 的Reed Relay Switching 设计 可程式化开/短路Threshold设定， 适用各类产品量测 适用于不同操作介面 高密度 Switching Board 多重安全性设计 100伏高压定电流源 的测试技术整合. 规格 . 测试点数 可达3200(模拟)/1600(数字) . 作业系统 微软Microsoft Windows 2000/XP/7 . 测试治具 两段式压床 . 可测电路板尺寸 标准: (宽) 360 mm x (长) 300 mm x (高) 100 mm
1.2 IC的测试
对数字IC，采用Vector（向量）测试。向量测试类似于真值表测量，激励输入向量，测量输出向量，通过实际逻辑功能测试判断器件的好坏。
如:与非门的测试
对模拟IC的测试，可根据IC实际功能激励电压、电流，测量对应输出，当作功能块测试。
ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。为此，联合测试组织（JTAG）颁布了IEEE1149.1测试标准。
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