菏泽二手元件测试仪厂家,ICT在线测试仪

公司集电子检测设备及治具的研发、生产、销售、服务于一体的高科技公司，拥有多年的电子设计，测试，制程等工程师十多名，产品行销中国、东南亚和拉美国家。公司拥有的生产设备，CNC数控钻孔机、北京精雕机；各种软件分析能力，宇柏林软件、考迪软件、华笙软件、治具分析处理软件；为客户提供的技术，可靠的售后服务；充分满足客户需求。我们一直秉承“持续创新、不断发展”的理念，并不断引进的技术和管理经验，开拓研制更有竞争力、更能满足客户需求的产品。向广大客户提供更的产品和服务。

利用运算放大器进行测试。由“A”点“虚地”的概念有：
∵Ix = Iref
∴Rx = Vs/ V0*Rref
Vs、Rref分别为激励信号源、仪器计算电阻。测量出V0，则Rx可求出。
若待测Rx为电容、电感，则Vs交流信号源，Rx为阻抗形式，同样可求出C或L。
1.2 隔离（Guarding）
上面的测试方法是针对立的器件，而实际电路上器件相互连接、相互影响，使Ix笽ref，测试时加以隔离（Guarding）。隔离是在线测试的基本技术。
在上电路中，因R1、R2的连接分流，使Ix笽ref ，Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。测试时，只要使G与F点同电位，R2中无电流流过，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不变。将G点接地，因F点虚地，两点电位相等，则可实现隔离。实际实用时，通过一个隔离运算放大器使G与F等电位。ICT测试仪可提供很多个隔离点，消除外围电路对测试的影响。

1.2 IC的测试
对数字IC，采用Vector（向量）测试。向量测试类似于真值表测量，激励输入向量，测量输出向量，通过实际逻辑功能测试判断器件的好坏。
如:与非门的测试
对模拟IC的测试，可根据IC实际功能激励电压、电流，测量对应输出，当作功能块测试。

随着现代制造技术的发展，超大规模集成电路的使用，编写器件的向量测试程序常常花费大量的时间，如80386的测试程序需花费一位熟练编程人员近半年的时间。SMT器件的大量应用，使器件引脚开路的故障现象变得更加。为此各公司非向量测试技术，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量测试技术。

DeltaScan利用几乎所有数字器件管脚和绝大多数混合信号器件引脚都有的静电放电保护或寄生二极管，对被测器件的立引脚对进行简单的直流电流测试。

ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。为此，联合测试组织（JTAG）颁布了IEEE1149.1测试标准。

TR5001E测试仪整合MDA和可选择性的ICT及Functional测试功能于同一平台,可以精简人力，缩短测试时间并提高产能。

ICT测试仪选配硬件，ICT测试仪模拟测试，TestJet技术非向量式开路检测，任意波形产生器(AWG)。
ICT测试仪可测电路板尺寸 标准: (宽) 360 mm x (长) 300 mm x (高) 100 mm
选配: (宽) 500 mm x (长) 350 mm x (高) 100 mm