发电机交流阻抗测试仪定制定做发电机转子的正常阻值

发电机交流阻抗测试仪 定制定做 发电机转子的正常阻值此方法运行成本低、灵活便捷，通常用于装备的前期开发过程中，偏重于对软件算法的测试。然而由于逼真度低，与实际环境差异过大，对于正式装备的性能测试仅具有参考作用，大多数场合无法作为终验证手段。第三种测试方法是半实物模拟测试，此方法是在前两种方法有机结合的基础上发展而来的。它利用数据采集或数学建模的方法组建数字化复杂电磁环境信息数据库，根据实际测试场景需求，计算波形数据，基于复杂信号发生技术，通过波形发生的方式产生实际电磁信号，人为构建高逼真度的复杂电磁环境，用于装备性能测试。

HN7032A发电机转子交流阻抗测试仪

一、功能特性

1、全自动采集、测量、显示、存储、打印所有测量参数和阻抗特性曲线（电压、 电流、阻抗、功率、频率、设备编号、时间等）。

2、超大量程，能全自动和手动测量所有发电机转子交流阻抗及其特性曲线。

3、内置超大容量存储器，可存储测试数据，并可经标准工业通讯接口（RS232）上传至PC机，运用本公司开发的随机软件实现数据、自动生 成和 编辑典型的测试报告，便于技术管理和存档。

4、具有完善的过压、过流保护功能，其中过流过压保护值是根据试验参数的设置情况自动调整，既简便又能确保被试设备的安全。

5、可兼做单相变压器的空载、短路试验和电压（流）互感器、消弧线圈的伏安特性试验。

6、自带大屏幕图形LCD，全中文菜单界面，光标提示操作，简单、方便；实时显示测试数据和曲线，曲线坐标自动缩放，读图更加清晰。

7、自带微型打印机，可实时打印交流阻抗测试报告和交流阻抗特性曲线。

二、主要技术指标

1、环境条件

温度：－5°C～40°C

相对湿度：<95%（25°C）

海拔高度：<2500m

2、性能指标

1) 交流阻抗 0－6kΩ 0.2级

2) 交流电压 0－600V 0.2级

3) 交流电流 0----120A 0.2级

4) 有功功率 0-----72KW 0.2级

5) 频  率 40---75HZ 0.2级

四、操作说明

1、键盘使用方法“OK”键选择当前的输入，“取消”可以消除刚才的错误输入，“↑”“↓”“←”“→”则可以方便的实现光标的移动。“切换”键为备用键。键盘的下方为0~9的数据键，在数据输入时，通过这些数字键可以方便的输入数据。

2、主界面介绍主界面如图2所示，由5个模块组成。 

1) 自动测试：在该测试项中可以进行按预定设置的自动交流阻抗测试。

2) 手动测试：在该测试项中可以进行手动交流阻抗测试。

3) 数据浏览：对存储的数据进行浏览，删除等管理。

4) 系统设置：设置当前的系统时间。

5) 厂家设置：该功能为厂家生产调。

3、自动测试试验介绍

1) 接通仪器工作电源，打开电源开关，待仪器复位后进入如图1所示的界面图，按“↑”“↓”键选择“自动测试”，然后按“OK”即可进入如图3所示的“自动测试参数设置”界面，该界面右侧为试验的接线图。

其中：设备编号――是用于区分不同设备、不同试验性质、次数。以便于在历史数据中查找和技术管理。电压步长――是指在以电压为基准进行各参数数据采集时，每次采集数据之间间隔电压数字的大小，范围（5——50V）。

电压――是指试验中需要测试的电压值，范围（0--600V），其设定值的1.1倍为仪器默认的过压保护动作值。

电流――是指试验中需要测试的电流值，范围（0--120A），其设定值的1.1倍为仪器默认的过流保护动作

根据试验需要将以上参数设置好，移动光标选择“开始试验”后即可进入如图4所示“自动测试”界面。

此界面的上部显示当前的电压频率，中间为主显示区，显示已经捕捉到的数据记录，下方为当前电压、电流的实时值。在此界面下调节调压器升压仪器将自动采集、显示所有参数在各测试点的测量数值。直至到大设定电压值，仪器蜂鸣器发出提示音，提示数据测量完毕。此时应迅速将调压器回零。

发电机交流阻抗测试仪 定制定做 发电机转子的正常阻值半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，封装和封装后测试组成，晶圆制造和封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。