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面向地区 |
全国 |
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天瑞 |
X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
被授予 “*火炬计划高新技术企业”，“江苏省高新技术企业”，“江苏省软件企业”，“江苏省科技创新示范企业”，“江苏省规划布局内软件企业”，“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。X荧光光谱仪系列产品被认定为“*新产品”和“江苏省高新技术产品”。产品品种，为环境保护与安全、工业测试与分析及其它领域提供*解决方案。
是一款设计结构紧凑，模块精密化程度的镀层测厚仪，采用了下照式腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品涂镀层检测被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
