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扬州薄膜测厚仪扫描设备,0.1μm-厂家

更新时间:2023-06-14 05:47:04 信息编号:cc1rlond10e5bd
扬州薄膜测厚仪扫描设备,0.1μm-厂家
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本公司生产多种型号和规格的测厚仪,从简单的厚度显示到输出厚调信号参予闭环调节等的测厚仪,实现对各种材质和范围的厚度测量。同时本着质量﹑用户至上的原则,对产品一律上门安装、调试、直到正常运行,提供有关技术资料,培训操作人员。

X射线测厚仪利用X射线管通电产生X射线作为信号源,根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换检测薄膜的厚度,它的特点是放射物质能量低,无需使用许可证,测量精度高,可测量透明或不透明材料,不受添加剂和色母料的影响,不受环境温度和薄膜抖动影响。

本系统配备有冷却装置,该装置的关键部件,压缩机组均采用进口原装组件,具有可靠性高、噪音小、控温精度高,等特点。通过C型架上进出油口进行冷却。延长了关键部件的使用寿命。

薄膜测厚仪根据程序预先设定的计算公式,通过组合不同的标样厚度并将其置于射线下测量,以得到一组基准数据,并存于PLC中。

薄膜测厚仪由于铝合金板材牌号众多,合金含量各不相同,而X射线对不同合金的吸收率是有差别的,为了弥补这种差别本系统增加了合金补偿功能(此功能类似于全量程标定功能)

薄膜测厚仪由于工作现场环境复杂,系统工作一段时间后由于各种因素的干扰,系统会产生基准漂移。这时通过系统效验模块可以修复这种漂移,以系统测量的准确性

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