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天瑞XRF仪器,天瑞光谱分析仪,国产XRF光谱仪,天瑞XRF光谱仪 |
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快,1秒钟出结果
1、采用行业的速探测器技术——(SDD)分辨率低至125eV
优势:探测面积大(面积达25m㎡)、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率更高,探测信噪比更强,检出限更低
2、采用行业的数字多道技术
优势:有效提高输出效率,实现计数率,采集有效计数率超过600KCPS
3、采用大功率X光管及的准直滤光系统
优势:使贵金属的激发效率更高
4、光闸系统
优势:样品更换无需关闭高压,提高测试效率与测试精度
人性化的设计
更安全:X射线联动安全装置----光闸与联动装置互动;仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷:多点测试,点哪测哪
预约预热:根据设定时间,仪器可定时开始测试
预约开机预热功能:客户可预约仪器开机时间,同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态;同时可以实现预约关机,关机前可设定声光提示
技术指标高灵敏度探测器(分辨率达149Ev),精密的放大电路,
提高Cd、Pb元素的灵度。
检出下限(Cd/Pd):Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
样品形状:任意大小,任意不规则形状
样品类型:塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
小样品腔尺寸:300×300×100mm
大样品腔尺寸:样品尺寸不受限制
X射线管:靶材/Mo管电压/5~50kV管电流/1~1000μA
照射直径:2、5、8mm
探测器:Si(PIN)半导体高灵敏度探测器
滤光片:八种新型滤光片自动选择
样品定位:微动载物平台(选配)
样品观察:130万分辨率彩色CCD摄像机
微区分析:X光聚焦微区分析系统(选配)软件
定量分析:理论Alpha
X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光进行检测。
受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定性波长的X射线,根据莫斯莱定律,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下:
λ=K(Z− s) −2
式中K和S是常数。
而根据量子理论,X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流,每个光具有的能量为:
E=hν=h C/λ
式中,E为X射线光子的能量,单位为keV;h为普朗克常数;ν为光波的频率;C为光速。
因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。
引起样品误差的原因:
(1)样品物理状态不同,样品的颗粒度、密度、光洁度不一样;样品的沾污、吸潮,液体样品的受热膨胀,挥发、起泡、结晶及沉淀等。
(2)样品的组分分布不均匀 样品组分的偏析、矿物效应等。
(3)样品的组成不一致 引起吸收、增强效应的差异造成的误差
(4)被测元素化学结合态的改变 样品氧化,引起元素百分组成的改变;轻元素化学价态不同时,谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。
(5)制样操作 在制样过程中的称量造成的误差,稀释比不一致,样品熔融不完全,样品粉碎混合不均匀,用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。
3、样品种类样品状态一般有固体块状样品、粉末样品和液体样品等。
(1)固体块状样品 包括黑色金属、有色金属、电镀板、硅片、塑料制品及橡胶制品等,其中金属材料占了很大的比例。
(2)粉末样品 包括各种矿产品,水泥及其原材料,金属冶炼的原材料和副产品如铁矿石、煤、炉渣等;还有岩石土壤等。
(3)液体样品 油类产品、水质样品以及通过化学方法将固体转换成的溶液等。
X荧光光谱仪分析法中不同样品有不同的制样方法。金属样品如果大小形状合适,或者经过简单的切割达到X 荧光光谱仪分析的要求,只需表面抛光,液体样品可以直接分析,大气尘埃通常收集在滤膜上直接进行分析。而粉末样品的制样方法就比较复杂。这里只对常见的固体和粉末样品的制样方法进行讨论,液体样品就不再讨论。
1、固体样品的主要缺点是,一般情况下不能采用各种添加法:如标准添加(或稀释)法、低(或高)吸收稀释法、内标法等。若所有样品中已经含有适当的、一定浓度的内标元素,则上述的后两种方法还是可用的。另外,也不能进行化学浓缩和分离。表面结构和成分有时也难取得一致。可能弄不到现成的标样,而人工合成又很困难。
2、制样方法,固体样品可用未加工的或经加工的大块材料或原材料(如生铁,钢锭等)制取。另外,也可把熔炉的熔融物直接浇铸到小模子里。为防止缓慢冷却时发生的成分偏析,好用激冷。经抛光的原材料,或经砂轮磨打的表面,一般是令人满意的,但对后者仍需进一步抛光,以减少表面粗糙度,并除去加工损伤的和没有代表性的表面层。抛光的方法有许多种,包括:
(1)行带式磨削,然后用抛光器抛光,其砂纸粒度依次由粗变细
(2)用车床、铣床或刨床进行加工。对于薄板和箔,仔细操作,以表面不出现翘曲、和折痕。特别要注意不能照射时间太长,以免受热变形。薄板和箔衬上一块刚性支撑物,或把它们粘在一起。
制备固体样品时要注意:
(1) 样品的分析面不能有气孔,析出物和多孔质现象。
(2) 防止偏析。造成偏析的因素:合金的组成和密度;铸模的材料、形状和厚度;合金熔化温度、浇铸温度和被浇铸样品的冷却速度等。
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