南昌销售二手TR-5001E测试仪

其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。 ◆ 视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易 ◆ 电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC ◆ 保护二极体之测试程式 ◆ 电脑自动隔离点选择功能，自动判断信号源及信号流入方向 ◆ 可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式 ◆ 完整测试统计资料及报表产生，且自动储存，不因断电而遗失数据 ◆ 系统具自我诊断功能及远端遥控功能 ◆ Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修 ◆ 高科技半导体CMOS Switching设计，无寿命限制，待测物安全性高 ◆ 操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式 ◆ 大型主机设计，高密度SwitchingBoard，可达3584测试点 ◆ 可加装调整装置具动态调整装调整功能

测试步骤 步骤: 12288步骤,可依需求扩充 测试时间 开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT) 元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(Typical DUT) 测试范围 电阻:0.1Ω至40MΩ 电晶体/二极体: 0.1V至9.99V 电容:1.0PF至100mF Zener Diode: 标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V 电感:1.0UH至60H 隔离点电路 隔离点自动选择,每测试步骤5点 测试值上下限设定范围 上限:+1%至999% 下限:-1%至-99% 可测电路板尺寸 标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高) 选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做. 主控制电脑 Pentium等级以上PC 监视器 15〃夜晶显示器 记忆设备 3.5 1.44MB,磁碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台 列印机 标准配备:微型印表机 *其它选购配备 Windows作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文） Trace Level 图形显示检修软体。

网络连线及远端遥控维修，Bar Code Reader(Printer)Package, Auto Test Program Generator,Data Transfer Generator 光电保护及多连板自动盖章功能 实装板程式烧录功能 *选项测试功能 HP TestJet功能： 可测IC数量：标准配备，64频道/MUX CARD 扩充，960频道 测试时间：2mSec/Pin Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up 电源 AC100V-120V，200V-240V，50Hz-60Hz,350W 尺寸重量 OFF LINE TYPE: 960mm(宽)×850mm(深)×1530mm(高),约200Kg IN LINE TYPE: 1000mm(宽)×720mm(深)×17200mm(高),约350Kg

二手德律ICT 二手TR-5001E元件测试仪 强大的软件作业环境: 使用Windows7作业系统 电脑自动学习并自动产生测试程式 电脑自动隔离点选择功能 可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式 完整测试统计资料及报表产生，且自动储存，不因断电而遗失数据 系统具自我诊断功能及远端遥控功能 BoardView 功能 完善的硬体架构设计 使用USB介面 的Reed Relay Switching 设计 可程式化开/短路Threshold设定， 适用各类产品量测 适用于不同操作介面 高密度 Switching Board 多重安全性设计 100伏高压定电流源 的测试技术整合.

规格 . 测试点数 可达3200(模拟)/1600(数字) . 作业系统 微软Microsoft Windows 2000/XP/7 . 测试治具 两段式压床 . 可测电路板尺寸 标准: (宽) 360 mm x (长) 300 mm x (高) 100 mm 选配: (宽) 500 mm x (长) 350 mm x (高) 100 mm . 模拟硬件 1、六线式量测 2、可编程AC电压源/DC电压源与电流源/DC高电压源 3、AC/DC电压源, DC电流源量测 4、元件R/L/C量 . 选配硬件 。模拟测试 1、TestJet技术非向量式开路检测，任意波形产生器(AWG) 。数字测试 1、每脚位全新数位1:1非多工式驱动/接收比设计 2、待测板电源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A 3、可编程DUT电源: 25V@8A, 75V@2.5A 4、边界扫描, BGA Tree测试能力 5、支援快闪记忆体及EEPROM及MAC的在线烧录TR-5001E 选ICT 二手TR5001E

二手TR-5001E元件测试仪 性，成本低，适合选择 美国安捷伦公司针对SMD IC接脚开路难以完整侦测的问题，成功的研发出Agilent TestJet Technology的技术以因应。本公司在取得安捷伦公司的专利授权后，已于JET-300 ICT 系统上配备了此技术，大幅提升了数位电路板的可侦测率。电脑主机板、介面卡或传真机、数据机的机板皆可得到满意的测试效果。其应用上的优点如下： 1.Agilent TestJet Technology的功能是利用量测一个铜箔板与IC脚框(Frame) 之间的电容量来侦测接脚的断路与否。此技术无需撰写任何程式，即可做正确而迅速的测试。 2.Agilent TestJet Technology可测试各种不同包装的IC, 如 Insertion type，PLCC type，QFP type，TAB type，PGA type (无接地者)，BGA type (OMPAC)等都可测试。

电解电容极性测试 以三端点法侦测铝质电解电容极性反插，可测率****；以测漏电流方式侦测电解电容极性反插，可测率。 软体系统　 JET-300拥有一般ICT的软体功能，无论是在测试前的程式制作支援软体, 或是测试后的不良资讯和资料分析，都有高水准的表现。在微软中文视窗环境下执行的系统程式，操作容易，功能强大。 差零件(焊点) 系统可列印出不良数多的零件(名)和不良次数多的焊点( 点)供厂商做品质控制或制程改善的参考。 测试资料统计的日报表和月报表 图表上半的长条图用以显示当月份每日累积OPEN/SHORT，零件不良率及整个测试的可接受率。图表的下半派图用以清楚明瞭地显示当日各不良原因的百分比。

TR5001E特点
. 模组化升级选项，可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统
. 高测试覆盖率之解决方案
. 少量测点之解决方案与PXI模组功能测试扩充
. 人性化接口搭配快速又简单的程序发展
HP TestJet功能：

可测IC数量：标准配备，64频道/MUX CARD

大扩充，960频道 测试时间：2mSec/Pin

Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz

Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz

Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V

Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up