产品别名 |
薄膜厚度测量仪 |
面向地区 |
全国 |
技术参数： * 检测范围 0--600mm * 钢板温度 0--1200°C * 钢板速度 0--25m/s * 采样时间 优于1ms * 测量精度 动态优于±0.03% * 安装方式 根据要求定制
X射线测厚仪利用X射线管通电产生X射线作为信号源，根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换检测薄膜的厚度，它的特点是放射物质能量低，无需使用许可证，测量精度高，可测量透明或不透明材料，不受添加剂和色母料的影响，不受环境温度和薄膜抖动影响。
激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。
检测头采用电离室和电子前置放大器组成电离室检测头，离子室设计具有大空间，高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元，延长系统的使用寿命。
用于实际测量，系统工作时轧制带材通过射线照射，测量头接收后，转化为电压信号，此电压值与全量程标定模块中所储存的基准数据相比较，通过程序中预先设定的计算公式计算后得到相应的厚度。
薄膜测厚仪由于工作现场环境复杂，系统工作一段时间后由于各种因素的干扰，系统会产生基准漂移。这时通过系统效验模块可以修复这种漂移，以系统测量的准确性
