P1602/P1702-Langer干扰发射探头套组
产品别名 |
Langer干扰发射探头,Langer IC测试系统,EMC测试 |
面向地区 |
全国 |
Langer干扰发射探头套组（IC测试系统）
品牌：Langer EMV-Technik
型号：P1602/P1702
基于IEC61967-4标准的传导发射测量，射频场发射至3GHz
Langer干扰发射探头套组P1602/P1702介绍：
P1602/P1702的测量确保了测量的高重复性和可比性。可以使用 ChipScan-ESA 软件进行测量。利用该软件保存了所有被测点的测量结果。它允许系统地、快速地比较和分析测量数据。
Langer干扰发射探头套组P1602/P1702配置:
1x P1602, 高频磁场探头
1x P1702, 高频电场探头
1x CS-ESA set, ESA芯片扫描软件
1x D70 h03
1x D70 h10
1x FKE 30
1x SMA-SMA 1 m, SMA-SMA 测量电缆
1x SMA-SMB 1 m, SMA-SMB 测量电缆
1x N-SMA
1x P1600 / P1700 case, System case
1x P1600 / P1700 m
简短的介绍：
P1602型高频磁场探头用于测量从一个集成电路耦合出的磁场，其频率在3GHz 以内。这些磁场在探头内的导体上感应出电压，相连的频谱分析仪会测量这些电压。
P1702型高频电场探头用于测量从一个集成电路发出的电场。这些电场会耦合到探头的电极上。由此产生的延迟电流会造成相连的频谱分析仪的输入端电压下降。相连的频谱分析仪会测量这些压降。
ESA芯片扫描软件用于遥控频谱分析仪，存储并记录测量曲线。这些曲线可以任意的相互或者与校正曲线、与频率相关的曲线和曲线常数换算。
