关键词 |
头戴耳机寿命试验机 |
面向地区 |
全国 |
本设备选用UVB和UVA任选灯管。它可产生比通常地球表面更强的短波紫外线，从而使试验较快得出测试结果，UVB灯管暴露试验对质量控制应用或对极端耐久性材料测试会很有用。
耳机配件温度快速变化试验箱适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元气件在高温低温快速变化的环境下、检验其各性能项指标。
1 整个箱体采用整体结构。箱体结构
2 箱体内侧采用1.0mm进口SUS304B不锈钢，外侧采用1.0mm 喷塑，保温材料采用超细玻璃保温棉。
3 大门密封采用双层硅橡胶密封材料。
快速温变一般都是升降温≥3℃/min，恒温恒湿基本都是1℃/min
耳机包装单臂跌落试验机
本试验机是专为模拟测试各种产品包装好后在搬运或运输过程中，受到堕落时而导致产品内部受损情况进行评估，从而得出佳之解决方案，以便在运送途中能尽量减少损失；本试验机可测试包装容器之菱、角、面。
————— 认证资质 —————
全国头戴耳机寿命试验机热销信息
