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FCC大电流注入探头 |
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FCC大电流注入探头（BCI测试）在评估电子设备的抗干扰能力方面具有重要作用，特别是在汽车电子零部件的EMC测试中。
使用FCC大电流注入探头采用大电流注入法与传统的辐射敏感度测试相比，BCI法具有良好的重复性，且操作简单实用，因此在商业、航空与军事领域的EMC测试中得到了广泛应用。
FCC大电流注入探头及其校准夹具广泛应用于电子设备的电磁兼容性（EMC）测试中，特别是在需要评估设备对电磁干扰（EMI）的耐受性时。这些测试有助于确保电子设备在复杂电磁环境中能够正常工作，不会因电磁干扰而失效。
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