天瑞仪器电镀层测厚仪品质优良,XRF测厚仪

在厚度一定的情况下，X射线的能量值为常量。当安全快门打开，X射线将从X射线源和探头之间的被测钢板中通过，被测钢板将一部分能量吸收，剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收，探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测钢板的厚度，则所吸收的X射线量也将改变，这将使探头所接收的X射线量发生变化，检测信号也随之发生相应的变化。

X射线测厚仪冷却系统包括X光源与检测器的冷却，在日常维护的过程中要测厚仪在正常温度下工作，以防止射线管温度过高，缩短使用寿命。按周期的对测厚仪进行标定，以测量精度。使用环境保持恒温，实验室配备空调。

被授予 “*火炬计划高新技术企业”，“江苏省高新技术企业”，“江苏省软件企业”，“江苏省科技创新示范企业”，“江苏省规划布局内软件企业”，“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。X荧光光谱仪系列产品被认定为“*新产品”和“江苏省高新技术产品”。产品品种，为环境保护与安全、工业测试与分析及其它领域提供*解决方案。

X射线镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域；
技术指标
多镀层分析，1～5层；
测试精度：0.001 μm；
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)；
测量时间：10~30秒；
SDD探测器，能量分辨率为125±5eV；
探测器Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射线管50kV/1mA，钼，铑靶（高配微焦钼靶）；

X射线测厚仪能用于检测各种镀层件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，具备的检测优势。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

天瑞仪器能散X荧光光谱仪在合金中的测试精度如何？
答： 测试属于测试，完全可以满足客户的要求
天瑞仪器能散X荧光光谱仪（简称EDXRF）的工作原理是什么？
答： 通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光，初级X光经过过滤和聚集摄入到被测样品产生次级X射线，也就是通常我们所说的X荧光，X荧光被探测器探测到后，经过放大，数模转换输入到计算机中，计算机计算出我们需要的结果