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x射线荧光膜厚仪,X射线荧光光谱仪

更新时间:2025-03-26 01:54:27 编号:761hlm9s8c34b6
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关键词
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面向地区
全国
品牌
天瑞

性能参数

产品型号:EDX 4500
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:60秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA

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