产品别名 |
CMOS探测器光谱仪,CMOS光谱技术 |
面向地区 |
OES8000S直读光谱仪技术性能及参数
全谱检测全面测试各种金属和元素
基于CMOS检测器全谱测试技术，全面测试各种金属中元素的谱线，方便实现多基体、多元素的测试。
配置和补充测试基体、通道、分析程序极为方便，方便交货后在客户处补充测试元素、分析程序。
国际供应商提供核心部件
光谱色散元件——光栅由德国Zeiss/法国JY公司制造，的光谱分辨能力
光谱检测器——CMOS探测器由日本滨松制造，确保谱线检测灵敏、低噪声
光室恒温系统
光室恒温腔体内配置反馈式加热装置和隔温层，有效光室内恒温。
由此抑制温度变化下机械件尺寸微弱变化导致的光路漂移。除特殊维护，平时保养一般不需进行描迹。
同时检测器工作在恒温环境有助于光电转换性能的稳定。
快速同时分析钢铁、有色金属材料中多种元素
将已预处理样品置于样品台后，OES8000s可在至多40秒内呈现测试结果。
可根据客户需求，测试几乎所有钢铁、有色金属材料中常见元素含量。
的测试方案
长期测试技术服务的积淀，天瑞仪器为钢铁、有色金属材料分析用户提供成熟的测试方案。
测试方案采用针对材料元素含量分类的分析程序，满足用户各类常见测试需求。
分析程序由原厂采用国际、国家标准样品校准，经仪器软件拟合、校正。
用户只需采用原厂配置少量标准化样品即可完成日常维护，不需购买大量制作分析程序的标准样品。
工作条件
工作温度：15-30℃
相对湿度：≤70%
电 源：220±5V，单相50Hz，接地电阻＜1Ω
实验室无震动、粉尘、强电磁干扰、强气流、腐蚀性气体
技术性能及指标
1. 分光室设计
帕邢-龙格结构,罗兰圆直径400mm
波长范围140 – 680nm
像素分辨率10pm
恒温33℃±0.2℃
特殊材质铸造，光室形变小
间歇式真空系统，可真空泵运行时间小于5%
2. 凹面光栅
刻线密度3600l/mm
光谱线色散率：1.04 nm/mm
3. 检测器
线阵CMOS
4. 分析时间
依样品种类而不同，一般少于40秒
5. 激发光源
全数字等离子火花光源技术
高能预燃技术 (HEPS)
频率100-1000Hz
电流1-80A
6. 激发台
3mm样品台分析间隙
喷射电极技术
特殊设计的气路系统，低氩气消耗
7. 尺寸和重量
高450mm 长900mm 宽600 mm
120 kg
8. 功率
功率1500W
待机功率70W
最近来访记录
