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肇庆场发射显微镜,蔡司场发射显微镜,场发射显微镜工作原理,蔡司场发射显微镜 |
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蔡司Xradia 515 Versa 的所有功能均与“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan) 控制软件无缝整合在一起,提供一个的工作流程境,让您能够轻松定位到感兴趣区域和选择扫描参数。对那些使用者经验水平各不相同的中心实验室用户来说,这款简洁易用的系统可谓是理想的选择。
界面保持了蔡司Xradia Versa 系统一如既往的灵活性,使您更容易设置各种扫描。“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan) 控制软件同时还可实现基于规程的可重复性,特别适用于原位和4D 研究,让您未来的科研工作更、更有序。
蔡司SmartShield 是保护您的样品和显微镜的简便解决方案,是蔡司“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan)控制系统中的一部分。只需轻松点击按钮,蔡司SmartShield就会在您的样品周围包裹一个数字化的防撞圈。这种自动化的解决方案让您可以放心地让样品更接近射线源和探测器。有了蔡司SmartShield,新用户和用户都可以体验到简洁的样品设置工作流和的蔡司Xradia Versa XRM 系统导航。
蔡司DeepRecon Pro 是一项基于人工智能的创新技术,可为各种应用带来出色的通量和图像质量优势。DeepRecon Pro 既适用于单的某个样品,也适用于半重复和重复工作流程。用户们现在可以通过使用极其方便的界面在现场自己训练新的机器学习网络模型DeepRecon Pro 的一键式工作流程让没有任何经验的用户也可熟练操作,无需熟知机器学习技术的。蔡司DeepRecon Custom 适用于重复性工作流程,可进一步提升XRM 性能,DeepRecon Pro。用户可与蔡司密切合作,开发用户定制创建的网络模型,满足其重复性应用的需求。
蔡司PhaseEvolve
蔡司PhaseEvolve 是一种后处理算法,主要针对X 射线显微镜在材料成像中为了提高对比度一贯采用的图像对比度增强所产生的效果。在中、低密度样品或高分辨率成像中这种会引起的相位效应。该功能可实现更的定量分析和对结果进行图像分割。
您可以为所有的蔡司Xradia Versa 仪器选配原位接口套件,包括机械集成套件、坚固的布线导槽和其它设施(馈入装置),以及基于测试规程的软件,它能够简化蔡司“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan)用户界面中的操作。在蔡司Xradia Versa 上体验原位装置高水平的稳定性、灵活性和集成控制,得益于其光学架构设计,在变化的环境条件下不会牺牲分辨率。