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CHY-C2A薄膜测厚仪厂家供应,薄膜测厚仪厂家供应

更新时间:2023-06-14 05:47:25 信息编号:6ebhpc1kfa19a
CHY-C2A薄膜测厚仪厂家供应,薄膜测厚仪厂家供应
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薄膜测厚仪-,测厚仪器,薄膜测厚仪厂家供应
面向地区
全国

CHY-C2A薄膜测厚仪厂家供应,薄膜测厚仪厂家供应

激光测厚仪可进行非接触式测量,这种检测方法有以下优势:不损伤被测板材表面,减少误差,提升精度,它是以测距的形式进行厚度检测,不受轧材材质的影响,木质、钢铁、碳钢、橡胶、塑料各种材质均可检测,无需根据不同材质更换测头,更重要的是它无危害,是一种非常适合在线厚度检测的设备。

可广泛用于生产线上对各种材料的厚度、宽度、轮廓的实时测量, 具有非接触测量、不损伤物体表面、无环境污染、抗干扰能力强、精度高、数据采集、处理功能全等特点,已成为我国工业生产线产品质量控制的重要设备。采用激光测量法,连续对被测物进行非接触、无损伤厚度测量,采样速度快精度高,性能稳定,操作简单,可设定测值上下限,超出界限值时主机自动报警。对板材、带材进行非接触、连续、快速在线测量。适用于冷轧带钢、铜、铝和其他金属材质的带材、箔材及玻璃、橡胶等非金属板材厚度测量。并可输出厚差信号,参予闭环调节,实现厚度的自动控制。

X射线测厚仪利用X射线管通电产生X射线作为信号源,根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换检测薄膜的厚度,它的特点是放射物质能量低,无需使用许可证,测量精度高,可测量透明或不透明材料,不受添加剂和色母料的影响,不受环境温度和薄膜抖动影响。

激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的,上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置,通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量,相对接触式测厚仪更,不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。

X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,已达到要求的轧制厚度。

检测头采用电离室和电子前置放大器组成电离室检测头,离子室设计具有大空间,高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元,延长系统的使用寿命。

本系统配备有冷却装置,该装置的关键部件,压缩机组均采用进口原装组件,具有可靠性高、噪音小、控温精度高,等特点。通过C型架上进出油口进行冷却。延长了关键部件的使用寿命。

薄膜测厚仪根据程序预先设定的计算公式,通过组合不同的标样厚度并将其置于射线下测量,以得到一组基准数据,并存于PLC中。

用于实际测量,系统工作时轧制带材通过射线照射,测量头接收后,转化为电压信号,此电压值与全量程标定模块中所储存的基准数据相比较,通过程序中预先设定的计算公式计算后得到相应的厚度。

佛山蓝丝莱自动化科技有限.. 8年

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