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置富闪存智能测试高温平台

更新时间:2022-11-08 11:28:01 信息编号:4638iqf7bb09b8
置富闪存智能测试高温平台
2685000≥ 1台
  • 2685000.00 元

  • 置富科技

  • -10~150°

  • 闪存寿命预测,闪存质量等级划分,芯片测试

15889600324 0755-86955087

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详情介绍

产品别名
闪存芯片智能测试系统
面向地区
品牌
置富科技
温度范围
-10~150°

置富闪存智能测试高温平台

闪存芯片智能测试系统FT-N200是一款可量身定制测试方案的综合闪存测试系统,系统可提供宽温测试环境,并行测试闪存颗粒种类多可达30种,并行测试闪存颗粒数量多可达240 颗。
闪存芯片智能测试系统FT-N200 支持多种测试 pattern及自定义测试参数功能,提供一键式基础测试流程、高灵活性的实验测试及高阶测试流程,可以实现闪存颗粒剩余寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试,帮助用户检验闪存颗粒的可靠性状态,完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告,为用户提供直观的图形化测试数据,为闪存颗粒等级分类和应用提供的参考依据,并基于闪存颗粒品质检测结果实现智能分级。

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