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X光测厚仪,X射线荧光光谱仪

更新时间:2024-06-24 01:52:46 编号:422l9iqo0a281a
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全国
品牌
天瑞

X光测厚仪,X射线荧光光谱仪

性能参数

产品型号:EDX 4500
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:60秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA

超薄窗X光管,指标达到国际水平
数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围

近年来,天瑞仪器在环保领域不断加大研发投入,针对大气污染、水污染、土壤污染和环境运维治理方面,研发生产了各类连续在线监测仪器、便携式现场检测仪器以及实验室分析仪器,产品广泛应用于电镀、钢铁、冶金、化工、皮革、纺织、电池、制浆、橡胶、制药、医疗等各大行业。今后,天瑞仪器也将继续积极推动绿色发展,用技术为构建美丽中国添砖加瓦,用创新与实力创造绿色未来。

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