产品别名 |
x射线荧光光谱仪,x荧光分析仪,能量色散x射线荧光光谱仪 |
面向地区 |
全国 |
利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
X射线荧光分析仪是利用XRF技术解决复杂成份中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率；
采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
台式X射线荧光分析仪 能量色散EDX光谱仪
X射线荧光分析仪的基本原理：
当能量原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。
莫斯莱(H.G.Moseley) 发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学意义表达如下：
λ=K(Z-s)-2
这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定性分析和定量分析
样品监测系统：
30倍500万像素彩色CCD摄像机，在软件测试界面可实时观察样品状态和放置样品测试前微动调整样品位置，样品测试完成后图样清楚呈现在测试报告中。
软体系统：
定量分析计算，运用理论Alpha系数法(NBS-GSC法) 、集成FP法、经验系数法，针对各元素的测试，多次测量重复精度小于0.1%；多种语言操作界面，操作简单，一键式设计，可生成各种人性化定制报告，能够自动输出PDF,EXCEL等报告格式。
Amptek 高灵敏SDD探测器一套：
钨靶特殊防辐射处理侧窗型X射线管一支
美国Spellman高压电源一支
低噪音快抽速真空泵一个
高精密CCD摄像机一个
Alpha系数法(NBS-GSC法)、集成FP法、经验系数法测试软件
样品盒一个，测试用样品杯1个，测试用塑料薄膜一卷
欧盟UME60K标样一片，银校正标样一片，铜合金标样一个。
标样说明书一份，合格证一张，保修卡一张，人员培训合格证3张
1．卖方按公司统一包装形式对买方所购产品进行包装；
2．托运公司将产品托运至买方地点，运输费用及托运包装费用由卖方承担。
付款方式 1．合同签订后，买方须先向卖方预付50%的货款；
2．卖方收到预付款后2-3周内，发货到买方地点并安装调试培训；
3．仪器安装调试培训完成后，30天内买方付清仪器余款。
交货地点 买方工厂（或地点）。
交货日期 收到买方预付款后2-3周内。
1．整机保修12个月；
2．免费提供软件升级；
3．维修相应时间：接到报修电话2小时内予以电话技术支持，不能解决问题情况下24小时内赶到用户现场；
4．定期回访用户，电话回访不少于1次/月。
5．质保期内发生（非人为造成）故障，均由我公司承担费用；
6．质保期满后发生的故障（非人为造成），如需更换硬件，我公司将以优惠价格更换相应部件。
