关键词 |
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面向地区 |
全国 |
品牌 |
天瑞 |
在厚度一定的情况下,X射线的能量值为常量。当安全快门打开,X射线将从X射线源和探头之间的被测钢板中通过,被测钢板将一部分能量吸收,剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收,探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测钢板的厚度,则所吸收的X射线量也将改变,这将使探头所接收的X射线量发生变化,检测信号也随之发生相应的变化。
X射线镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域;
技术指标
多镀层分析,1~5层;
测试精度:0.001 μm;
元素分析范围从铝(Al)到铀(U);
测量时间:10~30秒;
SDD探测器,能量分辨率为125±5eV;
探测器Be窗0.5mil(12.7μm);
微焦X射线管50kV/1mA,钼,铑靶(高配微焦钼靶);
是一款设计结构紧凑,模块精密化程度的镀层测厚仪,采用了下照式腔体设计,不但可以测量各种微小样品,即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量,是一款测量涂镀层成分及厚度、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品涂镀层检测被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
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