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面向地区 |
全国 |
产品特色
电脑自动学习并自动产生,开/短路、Pin Information及IC保护二极体之测试程式
可网路连线,并结合资料库管理及测试站监控程式
Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置,方便检修
大型主机设计,高密度SwitchingBoard,高可达3584测试点
应用IC Clamping Diode技术,可辅助检测 BGA 开路空焊问题。
二手TR-5001E 值得选择;ICT58
二手TR-5001E 运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外,更具有可程式化开短路学习模式设定,满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程,无疑是一台抵两台的选择,无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
宽频而准确的相位分离量测法
对于在RC或RL并联电路中的R.L.C. 可用相位测量法,分别量出其零件值,由于信号源频率宽广(100Hz到1MHz),因此可以侦测的范围优于一般的ICT,像下图线路中的零件都可以准确量测。
三端点、四端点量测
可对三端点的零件如 TRANSISTOR,DIGITAL TRANSISTOR,FET,SCR等。或四端点零件如 PHOTO COUPLER,做正确的测试,如有反插或零件损坏,必可测出。TRANSISTOR的β值也可量测。
电解电容极性测试
以三端点法侦测铝质电解电容极性反插,可测率****;以测漏电流方式侦测电解电容极性反插,可测率。
软体系统
JET-300拥有一般ICT的软体功能,无论是在测试前的程式制作支援软体, 或是测试后的不良资讯和资料分析,都有高水准的表现。在微软中文视窗环境下执行的系统程式,操作容易,功能强大。
差零件(焊点)
系统可列印出不良数多的零件(名)和不良次数多的焊点( 点)供厂商做品质控制或制程改善的参考。
————— 认证资质 —————
全国二手德律TR-5001E热销信息