玉林HAST老化试验箱HAST-35

控制精度：±0.1℃·触控式设定、数位及直接显示；
·P . I . D自动演算之功能，可减少人为设定时带来之不便；
·在运转或设定中，如发生错误时，会提供警示信号。

安全保护
1、电源超载、短路保护;
2、安全接地保护;
3、温度超温保护;
4、时间设置保护;
5、鼓风电机过载保护;
为保护设备,所有报警均会自动切断电源，并发出声讯提示

老化试验箱采用国外的加热气流方法，解决了原转盘式的温度不均匀先天缺陷，同时大大提高了试样放置的安全性，有效空间利用率是原转盘式的200%以上，适用于电子元件，橡胶零部件等材料在高温下的老化适应性试验。新型老化试验箱采用LTDE可编程控制系统，在额定温度范围内可按工作需要进行程序升温-恒温-待机，操作人员设置好程序后，仪器即按程序工作，完毕后自动关机（待机）。

使用注意事项
1、电源设备：应在供电线路中装有超负荷的保险丝装置，供此箱特种，并具有良好接地装置。
2、试料准备：将试品逐一编号后，将试品放置于试品转盘上，彼此以不相互接触和碰撞为宜。
3、待一切准备就绪，即关上箱门。
关闭控制系统各个开关，将电源插扑插上打开电源开关转盘即自动转动，同时控制系统的电源指示灯即亮，若须升温打开开关(即高温开关和低温开关)，然后调节全自动控制系统
5、仪器外壳有效接地，以使用安全。
6、仪器应放在通风良好的室内水平位置，在其周围不可放置易燃易爆物品。
7、应在供电线路中安装铁壳的闸刀开关一只，供此箱特种，在外壳接地通电前请检查本箱的电器性能，并应注意是否有断路或漏电现象,本仪器无防爆装置，不得放入易燃易爆物品干燥。
8、箱内物品放置切勿过挤，留出空间，以利热空气循环。
9、非工作人员请匆操作。

技术指标：
1、温度范围：-60℃～150℃
2、湿度范围：30～98%RH（温度在25℃～80℃时）
3、温度均匀度：≤2℃ （空载时）
4、湿度均匀度：+2、-3%RH
5、温度波动度：±0.5℃ （空载时）
6、湿度波动度：±2%
7、温度偏差：±2℃
8、湿度偏差：±2%
9、降温速率：0.7～1.0℃/min
10、升温速度：1.0～3.0℃/min
11、时间设定范围：1～9999H
12、湿度交变范围：40～98%RH

可程式控制器
温湿度控制仪表采用（触摸屏）全进口超大屏幕画面，荧幕操作简单，程式编辑容易。控制器操作界面设中英文可供选择，实时运转曲线图可由屏幕显示。
具有120组程式12000段999循环步骤的容量，每段时间设定大值为99小时59分。
资料及试验条件输入后，控制器具有荧屏锁定功能，避免人为触摸而停机。
具有自动演算的功能，可将温湿度变化条件立即修正，使温湿度控制更为稳定。
冷冻及风路循环系统
制冷机采用法国原装“泰康”全封闭压缩机。
冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。
采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温湿度分布均匀。
风路循环出风回风设计，风压、风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温湿度回稳时间快。
升温、降温、加湿系统完全立可提率，降低测试成本，增命，减低故障率。

加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

HAST老化试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。

新优化设计,美观大方，做工精细；
对应IEC60068-2-66条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器；
采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口；
采用真空泵，使箱内达到佳纯净饱和蒸汽状态；
具有缓降压、排气、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，试验结果的正确；
多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示；
HAST加速老化试验箱可根据客户产品定制产品架；