x荧光测厚仪能量色散xrf

采用SDD硅漂移探测器，分辨率低至139ev，更好的检测铂金中铱和金的含量
提供多种准直器，直径小达0.2mm，轻松实现精小部位的测试
精选全球组件组件
真空腔
在分析低含量的轻元素时，使用真空泵设备把空气抽出，使内部在真空状态下对轻元素进行分析。
真空泵（选配）
极限真空：6×10-2 帕转速：1400 转/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦

秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。

真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有低的检出限，为录井平台提供更有意义的具体数据特征；更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求；同时引入了目前的4096道数字多道技术，采用进口超薄铍窗有高激发效率的X射线管，使仪器计数率更高，稳定性更好，适用面更广；

优化了光路结构、软硬件可靠性，真空腔体使之性能更好、更便携；

特的抗震性设计，高保护光路设计使得该仪器通过了第三方机构高低温、高低频电动振动及湿热等使用认证；

在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。

仪器性能优势：

仪器外形小巧，简洁大方，可用于车载和实验室，使用方法简单，测试；

测试时上照式光路设计加上真空测试腔有效杜绝现场环中粉尘对探测器的污染；

准直器化设计使样品受激光斑达150mm2 测试信号的丰富性，提高测试度

封闭式定向风冷散热X射线管工作温度稳定，延长X射线管寿命；

分析样品速度快，快可达60S，并且可同时分析40种元素；

高阻尼可动支脚防震设计加上超稳真空控样设计了每一个样品与光管、探测器几何关系时刻相一致，屏蔽现场震动所造成的影响；

大面积厚晶体SDD探测器，配上Rh靶X光管以及良好的散热性，有力地确保测试稳定；

X射线屏蔽设计和高分子材料及安全联动装置有效无辐射外漏，让测试人员安全放心使用；

产品的特点
1.配置检测系统，提高各项分析性能
半导体探测器，高速数字处理多道及高功率高管压激发光源与分析光路配合，获得灵敏度。与以往机型相比，重元素检测下限可提升5~10倍，可应对高要求的检测需求。立通道散热风路确保仪器在高功率运转下具有更好的稳定性，提升分析结果的可靠性。
2.轻松操作，自动便捷
一体机式设计、一键测试功能、全匹配分析模式确保样品检测一个动作完成。
3.多层防护，安全可靠
软件误操作提醒，仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重 X射线防护措施确保使用人员安全。

全自动进样机械臂（选配）
配备水平多关节机械手，85位自动进样系统，可实现多达 85个样品的无人值守自动测试 。工业级四轴机械臂，有别于传统机械臂形态的创新轻巧外观；碰撞即停的设置，使机械臂可在无防护的状态下与人安全协作而无需围栏。直驱技术应用节约50%的设备成本，通过人机协作可提高50%的人工效率。