牛津仪器X-Strata920X射线荧光光谱测厚仪

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牛津仪器X-Strata920X射线荧光光谱测厚仪

牛津仪器X-Strata920X射线膜厚仪是一种电磁辐射，其波长介于紫外线和γ射线之间。它的波长没有一个严格的界限，一般来说是指波长为0.001-50nm的电磁辐射。对分析化学家来说，感兴趣的波段是0.01-24nm，0.01nm左右是超铀元素的K系谱线，24nm则是轻元素Li的K系谱线。1923年赫维西(Hevesy, G. Von)提出了应用X射线荧光光谱膜厚仪进行定量分析，但由于受到当时探测技术水平的限制，该法并未得到实际应用，直到20世纪40年代后期，随着X射线管、分光技术和半导体探测器技术的改进，X荧光膜厚仪分析才开始进入蓬勃发展的时期，成为一种极为重要分析手段。

一、牛津仪器X-Strata920X射线膜厚仪基本原理
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：
λ=K(Z− s) −2
式中K和S是常数。
而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为：
E=hν=h C/λ
式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。
因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

牛津仪器X-Strata920X射线测厚仪特点
Ø测量元素范围：钛Ti22---铀U92；
Ø测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；
Ø测量精度高、稳定性好，测量结果至μin；
Ø快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果；
Ø可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析；
Ø进行贵金属检测，如Au karat评价；
Ø材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；
Ø强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、大值、小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图；
Ø结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等；
Ø测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍；
Ø激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦；
Ø拥有NIST认证的标准片；
Ø提供服务及技术支持。

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