快速无损牛津荧光X射线测量仪
产品别名 |
X射线无损测厚仪,孔铜测厚仪,荧光X射线分析仪,X光测厚仪 |
面向地区 |
全国 |
品牌 |
其它 |
X射线测量仪介绍：牛津荧光X射线能够在不破坏样品的情况下准确、快速地进行测定，所以牛津荧光X射线测量仪在工程、品质管理等领域得到广泛的应用。近，作为高灵敏度的分析方法，依据减轻背景的滤波和薄膜法等技术进行微量的定量。推测在测定特别材料和土壤等的有害金属时，在未来几年里，荧光X射线分析法将作为主流的分析方法。
X射线测量仪特点：牛津荧光X射线分析装置大致分为波散型（Wave Length-dispersive X-ray Spectroscopy; WDX）和能散型（Energy-dispersive X-ray Spectroscopy; EDX）。（参考图2）WDX型是把从样品产生的荧光X射线进行光谱结晶形成光谱，再利用准值器计测。是一种大型化装置。而EDX型，由于检测器本身的能量分解能力很高，无需其他的分散系统，则是一种相对的小型化装置。
牛津荧光X射线分析也可以说是X射线领域里的分光光谱分析。与测定液体样品的原子吸收光谱和发光光谱分析近乎相同的性能。比如，原子吸收光谱（FLAAS），是在2000℃～3000℃的火焰下把样品原子化，发光光谱分析（ICP-AES）是利用6000～9000℃的等离子火焰进行激
它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
一、镀层测厚仪X-Strata系列提供：
1.无损分析：无需样品制备
2.经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益
3.操作简单，只需要简单的培训
4.分析只需三步骤
5.的分析准确性和性
6.在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
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