关键词 |
x射线光谱测厚仪,电镀层膜厚分析仪,xrf膜厚仪,镀金膜厚仪 |
面向地区 |
全国 |
品牌 |
天瑞 |
x射线测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验，研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上为其开发的软件，在镀层行业中得到了广泛的应用。
x射线荧光镀层测厚仪可满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。
天瑞镀层测厚仪是一款自动化程度很高的快捷膜厚测试设备，它可以用鼠标来控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点，高分辨率探头使分析结果更加，良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
天瑞x射线荧光镀层测厚仪已经在下面的领域中得到大规模使用，黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测。金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。通信5G，电子连接件，器材部件等等产品。
x射线测厚仪具有以下特点
快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
