云浮供应二手德律TR-5001E厂家报价,TR-5001E

二手TR-5001E 运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。

在线测试仪规格参数表

项 目

详 细 参 数

测试点数

标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点

大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点

测试步骤

步骤: 12288步骤,可依需求扩充

测试时间

开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT)

元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(Typical DUT)

测试范围

电阻:0.1Ω至40MΩ 电晶体/二极体: 0.1V至9.99V

电容:1.0PF至100mF Zener Diode: 标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V

电感:1.0UH至60H

隔离点电路

隔离点自动选择,每测试步骤5点

测试值上下限设定范围

上限:+1%至999% 下限:-1%至-99%

可测电路板尺寸

标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高)

选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做.

主控制电脑

Pentium等级以上PC

监视器

15〃夜晶显示器

记忆设备

3.5 1.44MB,磁碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台

列印机

标准配备:微型印表机

*其它选购配备

Windows作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文）

Trace Level 图形显示检修软体。

网络连线及远端遥控维修，Bar Code Reader(Printer)Package,

Auto Test Program Generator,Data Transfer Generator

光电保护及多连板自动盖章功能

实装板程式烧录功能

*选项测试功能

HP TestJet功能：

可测IC数量：标准配备，64频道/MUX CARD

扩充，960频道 测试时间：2mSec/Pin

Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz

Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz

Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V

Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up

电源

AC100V-120V，200V-240V，50Hz-60Hz,350W

尺寸重量

OFF LINE TYPE: 960mm(宽)×850mm(深)×1530mm(高),约200Kg

IN LINE TYPE: 1000mm(宽)×720mm(深)×17200mm(高),约350Kg

5001E满足电子产业中各类产品对测试环境不同之要求，所推出之全系列产品之一。其切换电路板乃应用且高寿命之机械式Reed Relay，适用模拟产品及高压电流之检测，并可整合动态量测 。而高密度之设计及软件技术，使TR518FR之测点可高达2560测试点，其速度亦较传统的ICT快80%以上。
5001E在线测试仪规格参数
测试点数 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点
测试步骤 步骤: 12288步骤,可依需求扩充
测试时间 开路/短路测试:每1000点约1.5Sec(Typical DUT)
元件测试:每一元件约0.8mSec至30mSec(Typical DUT)
测试范围 电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体: ±5V
电容:1.0PF至40mF Zener二极体: 标准配备,0.1V至48V

TR5001E测试仪

二手TR5001E搭配两段式压床将可降低治具成本，此ICT为PCBAs测试之可扩充平台。TR5001E可以依客户的测试需求，提供经济的测试解决方案，并且可完全满足大多数客户之测试要求。TR5001E整合MDA和可选择性的ICT及Functional测试功能于同一平台,可以精简人力，缩短测试时间并提高产能。

二手ICT TR5001E特点
. 模组化升级选项，可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统
. 高测试覆盖率之解决方案
. 少量测点之解决方案与PXI模组功能测试扩充
. 人性化接口搭配快速又简单的程序发展

规格
. 测试点数 可达3200(模拟)/1600(数字)
. 作业系统 微软Microsoft Windows 2000/XP/7
. 测试治具 两段式压床
. 可测电路板尺寸 标准: (宽) 360 mm x (长) 300 mm x (高) 100 mm
选配: (宽) 500 mm x (长) 350 mm x (高) 100 mm

. 模拟硬件
1、六线式量测
2、可编程AC电压源/DC电压源与电流源/DC高电压源
3、AC/DC电压源, DC电流源量测
4、元件R/L/C量

. 选配硬件
。模拟测试
1、TestJet技术非向量式开路检测，任意波形产生器(AWG)
。数字测试
1、每脚位全新数位1:1非多工式驱动/接收比设计
2、待测板电源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A
3、可编程DUT电源: 25V@8A, 75V@2.5A
4、边界扫描, BGA Tree测试能力
5、支援快闪记忆体及EEPROM及MAC的在线烧录TR-5001E
选ICT 二手TR5001E

宽频而准确的相位分离量测法
对于在RC或RL并联电路中的R.L.C. 可用相位测量法，分别量出其零件值，由于信号源频率宽广(100Hz到1MHz)，因此可以侦测的范围优于一般的ICT，像下图线路中的零件都可以准确量测。

三端点、四端点量测
可对三端点的零件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，FET，SCR等。或四端点零件如 PHOTO COUPLER，做正确的测试，如有反插或零件损坏，必可测出。TRANSISTOR的β值也可量测。

电解电容极性测试
以三端点法侦测铝质电解电容极性反插，可测率****；以测漏电流方式侦测电解电容极性反插，可测率。

软体系统　
JET-300拥有一般ICT的软体功能，无论是在测试前的程式制作支援软体, 或是测试后的不良资讯和资料分析，都有高水准的表现。在微软中文视窗环境下执行的系统程式，操作容易，功能强大。

差零件(焊点)
系统可列印出不良数多的零件(名)和不良次数多的焊点( 点)供厂商做品质控制或制程改善的参考。