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公司集电子检测设备及治具的研发、生产、销售、服务于一体的高科技公司,拥有多年的电子设计,测试,制程等工程师十多名,产品行销中国、东南亚和拉美国家。公司拥有的生产设备,CNC数控钻孔机、北京精雕机;各种软件分析能力,宇柏林软件、考迪软件、华笙软件、治具分析处理软件;为客户提供的技术,可靠的售后服务;充分满足客户需求。我们一直秉承“持续创新、不断发展”的理念,并不断引进的技术和管理经验,开拓研制更有竞争力、更能满足客户需求的产品。向广大客户提供更的产品和服务。
1.2 IC的测试
对数字IC,采用Vector(向量)测试。向量测试类似于真值表测量,激励输入向量,测量输出向量,通过实际逻辑功能测试判断器件的好坏。
如:与非门的测试
对模拟IC的测试,可根据IC实际功能激励电压、电流,测量对应输出,当作功能块测试。
保持管脚A的电压,在管脚B加一较高负电压,电流Ib流过管脚B之正向偏压二极管。由于从管脚A和管脚B至接地之共同基片电阻内的电流分享,电流Ia会减少。
IEEE1149.1定义了一个扫描器件的几个重要特性。定义了组成测试访问端口(TAP)的四(五〕个管脚:TDI、TDO、TCK、TMS,(TRST)。测试方式选择(TMS)用来加载控制信息;其次定义了由TAP控制器支持的几种不同测试模式,主要有外测试(EXTEST)、内测试(INTEST)、运行测试(RUNTEST);后提出了边界扫描语言(Boundary Scan Description Language),BSDL语言描述扫描器件的重要信息,它定义管脚为输入、输出和双向类型,定义了TAP的模式和指令集。
TR5001E测试仪整合MDA和可选择性的ICT及Functional测试功能于同一平台,可以精简人力,缩短测试时间并提高产能。
ICT测试仪选配硬件,ICT测试仪模拟测试,TestJet技术非向量式开路检测,任意波形产生器(AWG)。
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