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我们的综合解决方案采用了专属的吸收衬度增强探测器,尽可能地吸收低能量光子,同时尽可能地少吸收降低图像衬度的高能量光子,从而为您提供拥有出色衬度的成像结果。此外,可调节的传播相位衬度技术通过探测经过材料后产生折射的X 射线光子信号,可显示出那些吸收衬度很低甚至没有吸收衬度的特征。
蔡司Xradia 515 Versa 的所有功能均与“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan) 控制软件无缝整合在一起,提供一个的工作流程境,让您能够轻松定位到感兴趣区域和选择扫描参数。对那些使用者经验水平各不相同的中心实验室用户来说,这款简洁易用的系统可谓是理想的选择。
界面保持了蔡司Xradia Versa 系统一如既往的灵活性,使您更容易设置各种扫描。“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan) 控制软件同时还可实现基于规程的可重复性,特别适用于原位和4D 研究,让您未来的科研工作更、更有序。
蔡司SmartShield 是保护您的样品和显微镜的简便解决方案,是蔡司“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan)控制系统中的一部分。只需轻松点击按钮,蔡司SmartShield就会在您的样品周围包裹一个数字化的防撞圈。这种自动化的解决方案让您可以放心地让样品更接近射线源和探测器。有了蔡司SmartShield,新用户和用户都可以体验到简洁的样品设置工作流和的蔡司Xradia Versa XRM 系统导航。
蔡司DeepRecon
率先实现基于深度学习的商用重建技术,使您在不影响XRM RaaD 成像能力的情况下,能够实现通量多达10 倍的提高。也保持相同的投影数并进一步改善图像质量。DeepRecon 可特地从XRM 生成的大数据中获取隐藏的机会,并提供由人工智能驱动的高速或显著的图像质量改进。
蔡司PhaseEvolve
蔡司PhaseEvolve 是一种后处理算法,主要针对X 射线显微镜在材料成像中为了提高对比度一贯采用的图像对比度增强所产生的效果。在中、低密度样品或高分辨率成像中这种会引起的相位效应。该功能可实现更的定量分析和对结果进行图像分割。
您可以为所有的蔡司Xradia Versa 仪器选配原位接口套件,包括机械集成套件、坚固的布线导槽和其它设施(馈入装置),以及基于测试规程的软件,它能够简化蔡司“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan)用户界面中的操作。在蔡司Xradia Versa 上体验原位装置高水平的稳定性、灵活性和集成控制,得益于其光学架构设计,在变化的环境条件下不会牺牲分辨率。
Dragonfly Pro:可视化和定量分析的强
大工具Dragonfly Pro 是Object Research SystemORS)公司研发的一款3D 可视化与分析软件,蔡司使用该软件处理扫描电子显微镜、双束离子束电子显微镜和X射线显微镜的数据。Dragonfly Pro 运用可视化技术和的立体渲染,能够高清地探索集的细节信息和特性。可以在同一工作站内记录多种数据,并借助扩展的图像处理功能轻松操作2D 和3D 数据。
全功能3D 可视化和数据分析平台
• 使用强大而直观的分割和分析工具找到
量化结果
• 创建引人入胜的视觉媒体
专为支持显微镜技术人员的需求而设计
• 用于集成多尺度关联显微技术的通用工作
站,跨度涵盖厘米到纳米。
• 简单直观的用户界面
• 可使用Python 定制
北京瑞科中仪科技有限公司专注半导体材料研究分析设备的研发和应用。的团队,专精的服务,提供理想的解决方案。
我们长期专注于半导体材料研究与分析设备的经销和代理,为高校、企业科研工作者提供的分析解决方案。以技能为导向,用科技来解决用户在科研中遇到的难题。的技术工程师和科研工作者进行现场演示和技术交流,打消顾虑,彼此协作,为我国的科研领域谱写新篇章。
北京瑞科中仪科技有限公司长期代理销售供应多种分子材料的研究分析设备,其中包括但不限于扫描电子显微镜、感应耦合等离子体化学气相沉积系统、离子束刻蚀机、等离子清洗机、物理气相沉积系统以及各品牌的光学显微镜以及实验室设备仪器。
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北京瑞科中仪科技有限公司专注半导体材料分析,助力科研机构实现分析。通过对行业的深入剖析,瑞科中仪科技有限公司工作人员已掌握和具备半导体材料分析研究的基本素质,可以根据各领域用户的实际需求为用户提供的解决方案。