X荧光光谱仪天瑞仪器X射线荧光镀层测厚仪

X射线镀层测厚仪是一种用于测量材料表面涂层厚度的仪器。工作原理是利用X射线穿透材料，通过测量X射线的透射率来确定涂层的厚度。这种仪器通常用于工业生产中的表面涂层质量控制和监测，可以帮助企业确保产品符合规定的涂层厚度要求，提高产品的质量和生产效率。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。它适用范围广，量程宽、操作简便且，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验，研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷，无需液氮，无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行检测,帮助企业准确核算成本及质量管控。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。