镀金层测厚仪膜厚仪X荧光光谱仪

元素范围从硫到铀分析时间30秒分析误差3%镀层范围0.005~50微米

X射线镀层测厚仪是一种用于测量材料表面涂层厚度的仪器。工作原理是利用X射线穿透材料，通过测量X射线的透射率来确定涂层的厚度。这种仪器通常用于工业生产中的表面涂层质量控制和监测，可以帮助企业确保产品符合规定的涂层厚度要求，提高产品的质量和生产效率。

软件优势
1、清晰化操作界面布局
简约的布局设计,让操作员快速的掌握软件基本操作。
2、快捷键按钮设计
增加了日常镀层测量快捷键设计按钮,可快速检测,提升工作效率。
3、高清可视化窗口
可清晰直观的观测到被检测样品的状态,通过自动对焦、移动快捷键,调节到用户理想的观测效果。
4、多通道数字谱图界面
清晰化呈现被检样品的元素谱图,配合的解谱技术,便可计算出结果。
5、测试结果汇总布局设计
可快速查找当前测试数据,并可对测试数据进行报告生成,且快速查询以往测试数据。

性能优势
1、结合镀层行业微小样品的检测需求,研发适用于镀层检测的超近光路系统,减少能量过程损耗。搭载的多导毛细管聚焦管,的提升了仪器的检测性能,聚焦强度提升1000~10000倍,更高的检测灵敏度和分析精度以及高计数率测试结果的性和稳定性。
2、全景区双相机设计,呈现全高清广角视野,让样品观察更全面;微米级别分辨率,更好的满足超微产品的测试,让测试更广泛更便捷。
3、的多导毛细管技术,信号强度比金属准直系统高出几个数量级。
4、多规格可选的多导毛细管,很好的满足用户不同测试需求。
5、XYZ轴移动测试平台,结合双激光点位定位系统,可实现在样品测试过程中的全自动化感受一键点击,测试更省心。