ROHS快速测试仪EDX1800B天瑞XRF分析仪

x荧光光谱仪使用中常见的问题及注意事项
1、过滤时有时会出现流动相漏液。可能的原因是滤膜放置不正确和接头有点错位，导致流动相从缝隙中漏出。
注意：操作时，应先向滤瓶内倒入少量流动相，观察是否漏液并开始过滤，若未漏液，再向滤瓶中添加流动相。
2、超声时，瓶外液体的液面应瓶内流动相的液面，否则流动相内的气体可能无法排出液体，气体仍然残留在流动相内，以致开机排气时无气泡排出。
3、开机排气结束后，应先将流动相流量调小，再关闭排气阀，否则会导致柱压瞬间升高超过压力上限，致使泵停止工作。
4、反相LC液相色谱仪冲洗柱子时，应尽量避免使用纯水流动相冲洗柱子，因为水性强，会损害色谱柱，导致柱效下降。
5、冲洗色谱柱时，还可以不同比例的混合流动相冲洗色谱柱，以冲出不同性的残留物质，但还是要用纯有机流动相冲洗色谱柱一段时间。
6、在实验过程中会出现压力超过上限或压力偏高，有可能是柱内有残留物质未被冲出，此时应用较大流速的有机流动相充分冲洗色谱柱。若条件允许，也可采用梯度洗脱的方式冲洗色谱柱。压力过高也有可能是滤头堵塞，此时可将滤头取出放到中超声。
7、若隔天或更长时间不使用LC液相色谱仪，应将两流动相瓶中均倒入纯的有机流动相（因为水流动相长时间不用会滋生，污染滤头和色谱柱，导致下次开机使用时会出现鬼峰，基线不稳）。
8、进样时所进样品的体积应不小于色谱柱的容积，且进样时器里的气泡一定要排出，不可将气泡打进色谱柱。

技术指标高灵敏度探测器（分辨率达149Ev），精密的放大电路，
提高Cd、Pb元素的灵度。
检出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
样品形状：任意大小，任意不规则形状
样品类型：塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
小样品腔尺寸：300×300×100mm
大样品腔尺寸：样品尺寸不受限制
X射线管：靶材/Mo管电压/5～50kV管电流/1～1000μA
照射直径：2、5、8mm
探测器：Si(PIN)半导体高灵敏度探测器
滤光片：八种新型滤光片自动选择
样品定位：微动载物平台（选配）
样品观察：130万分辨率彩色CCD摄像机
微区分析：X光聚焦微区分析系统（选配）软件
定量分析：理论Alpha

X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。
受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：
λ=K(Z− s) −2
式中K和S是常数。
而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为：
E=hν=h C/λ
式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。
因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。
大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。

X荧光光谱仪粉末样品误差主要来源：
（1） 粒度效应 粉末样品粒度效应是指被测量样品中的分析元素的荧光强度变化和样品的粒度变化有关。一般来说，被分析样品的粒度越小，荧光强度越高，轻元素尤甚。原子序数越小，对粒度越敏感；同一元素粒度越小，制样稳定性越好。一般要求粒度小于200 目。
（2） 偏析 偏析是指组分元素在样品中分布的差异。偏析有两种：粒间偏析：粉末颗粒A 和B 之间混合不均匀；元素偏析：元素分布对粒度分布的非匀质性。如果在采用充分多步混合或微粉碎情况下仍不能解决，可用其它制样手段，如熔融，溶解等。
（3）矿物效应 由于矿物的化学结构或微观晶体形态不同，含量相同的同一元素在不同的矿物中，它们的荧光强度会有很大的差异。所谓的矿物效应不单是针对矿物，在粉末样品的X 荧光光谱仪分析中有着更广泛的含义。

X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤有非常好的重复操作可能性，所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品经过同样的制样处理过程。X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分布是否有变化，样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作，还防止样品的损失和沾污。