天瑞光谱仪X荧光测厚仪稳定性好

采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样精密的三维移动平台
的样品观测系统
的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换

thick600镀层测厚仪使用而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。集天瑞仪器多年镀层测厚检测技术和经验，以特的产品配置、功能的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。

半导体膜厚测试仪是一种用于测量半导体材料薄膜厚度的仪器。它通常使用光学或X射线技术来获取薄膜的厚度数据。该仪器可以用于研究和生产中的半导体材料，以确保薄膜的厚度符合设计要求，并且可以帮助改善薄膜生长和表征过程。半导体膜厚测试仪在半导体工业中起着至关重要的作用，能够提高生产效率和产品质量。